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"7980ウェハー測定システムは、主に白色光干渉測定（WLI）モジュールによる計測を行い、ナノレベルでの非破壊かつ高速な表面形状測定・分析が可能です。この3次元光学計測技術は先進パッケージング向けに開発され、精密かつ信頼性の高い形状情報を提供することができ、現在の3D検査分野において最高精度を誇る測定手法の一つです。Congruence Market Insightの2024年のデータによると、WLI技術はその高解像度と高精度により、3D測定市場で45%以上のシェアを占めています。

7980モジュールは先進技術を使い、半導体パッケージングにおける2D/3Dクリティカルディメンション（CD）やプローブマークなどの測定に特に適しており、正確な測定結果を提供することができます。さらに、自己監視機構（QCM）を備え、測定プロセスの安定性と信頼性を確保しています。これらの特性により、7980モジュールは既存競合他社との差別化が図られ、先進パッケージング及び高精度測定ニーズに対する理想的なソリューションとなっています。半導体プロセスが進歩し続けるなか、7980システムは現在の技術要件を満たすだけでなく、将来のより高精度な測定にも対応できる能力を備えています。"

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